高分辨粒度儀的校準(zhǔn)方法

更新時(shí)間：2023-10-26

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高分辨粒度儀主要用于測(cè)量納米材料的粒徑和粒度分布，其應(yīng)用廣泛。

校準(zhǔn)方法：

1.確保儀器光學(xué)系統(tǒng)工作正常。光學(xué)窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分，因此測(cè)試前應(yīng)保證光學(xué)窗口內(nèi)外表面光潔，無劃痕，清潔，無缺損。光學(xué)基準(zhǔn)譜平滑依次過渡，無明顯突起或凹陷。

2.外界條件對(duì)儀器的影響。外界條件主要包括環(huán)境的濕度，溫度和電源電壓的波動(dòng)對(duì)儀器測(cè)試結(jié)果的影響。

3.儀器測(cè)量重復(fù)性。將儀器預(yù)熱到規(guī)定時(shí)間，采用一種國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行多次測(cè)試，一般測(cè)試樣品6～10次，記錄每次D50，計(jì)算測(cè)量平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。

4.儀器測(cè)量相對(duì)誤差。與儀器重復(fù)性測(cè)量不同的是，儀器相對(duì)誤差的測(cè)試要采用至少三種樣品以上的國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行測(cè)試，每種樣品獨(dú)立測(cè)量3次并分別求其平均值，獲得多個(gè)粒度測(cè)量的平均值，分別計(jì)算儀器測(cè)量平均值與粒度表標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)值間的相對(duì)誤差。

5.儀器分辨力。儀器分辨力的判斷是采用測(cè)試兩種樣品混合測(cè)試的方法，兩種粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的移取量要根據(jù)其質(zhì)量濃度而定，確保混合后的樣品中標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的質(zhì)量濃度比為1:2，將樣品混合均勻后加入儀器進(jìn)行測(cè)量。應(yīng)能夠從儀器測(cè)量粒度分布曲線圖中能夠觀察出2個(gè)獨(dú)立不相連的峰形，則認(rèn)為雙峰已分。

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高分辨粒度儀的校準(zhǔn)方法